| công cụ tìm kiếm bảng dữ liệu linh kiện điện tử |
|
VX6854LC bảng dữ liệu(PDF) 106 Page - STMicroelectronics |
|
|
|||||||||||||||||||||||||||||
VX6854LC bảng dữ liệu(HTML) 106 Page - STMicroelectronics |
|
106 / 114 page ![]() Defect categorization VX6854LC 106/114 DocID027110 Rev 2 An average value is calculated for both the “small” and “large” areas. The areas are then scanned across each color channel separately. Figure 48. Scan array for blemish The next stage of the test is the creation of a pixel map for each color channel with the coordinates of the failing pixels. See Figure 49. Figure 49. Fail map A pixel location is identified as a fail in the map if it satisfies the following criteria: Small_average < Large_average - (1.2% of Large_average) or Small_average > Large_average + (1.2% of Large_average) Blemish |
|
Link URL |
| Cho đến nay ALLDATASHEET có giúp ích cho doanh nghiệp của bạn hay không? [ DONATE ] |
Alldatasheet là | Quảng cáo | Liên lạc với chúng tôi | Chính sách bảo mật | Liên kết đến bảng dữ liệu | Trao đổi link | Tìm kiếm theo nhà sản xuất All Rights Reserved©Alldatasheet.com |
| Russian : Alldatasheetru.com | Korean : Alldatasheet.co.kr | Spanish : Alldatasheet.es | French : Alldatasheet.fr | Italian : Alldatasheetit.com Portuguese : Alldatasheetpt.com | Polish : Alldatasheet.pl | Vietnamese : Alldatasheet.vn Indian : Alldatasheet.in | Mexican : Alldatasheet.com.mx | British : Alldatasheet.co.uk | New Zealand : Alldatasheet.co.nz |
|
Family Site : ic2ic.com |
icmetro.com |