| công cụ tìm kiếm bảng dữ liệu linh kiện điện tử |
|
IO96NDB2V1 bảng dữ liệu(PDF) 57 Page - Microsemi Corporation |
|
|
|||||||||||||||||||||||||||||
IO96NDB2V1 bảng dữ liệu(HTML) 57 Page - Microsemi Corporation |
|
57 / 242 page ![]() ProASIC3L Low Power Flash FPGAs Revision 13 2-41 Table 2-44 • Duration of Short Circuit Event before Failure Temperature Time before Failure –40°C > 20 years 0°C > 20 years 25°C > 20 years 70°C 5 years 85°C 2 years 100°C 6 months Table 2-45 • I/O Input Rise Time, Fall Time, and Related I/O Reliability Input Buffer Input Rise/Fall Time (min.) Input Rise/Fall Time (max.) Reliability LVTTL/LVCMOS No requirement 10 ns * 20 years (110°C) LVDS/B-LVDS/ M-LVDS/LVPECL No requirement 10 ns * 10 years (100°C) Note: *The maximum input rise/fall time is related to the noise induced into the input buffer trace. If the noise is low, then the rise time and fall time of input buffers can be increased beyond the maximum value. The longer the rise/fall times, the more susceptible the input signal is to the board noise. Microsemi recommends signal integrity evaluation/characterization of the system to ensure that there is no excessive noise coupling into input signals. |
|
Link URL |
| Cho đến nay ALLDATASHEET có giúp ích cho doanh nghiệp của bạn hay không? [ DONATE ] |
Alldatasheet là | Quảng cáo | Liên lạc với chúng tôi | Chính sách bảo mật | Liên kết đến bảng dữ liệu | Trao đổi link | Tìm kiếm theo nhà sản xuất All Rights Reserved©Alldatasheet.com |
| Russian : Alldatasheetru.com | Korean : Alldatasheet.co.kr | Spanish : Alldatasheet.es | French : Alldatasheet.fr | Italian : Alldatasheetit.com Portuguese : Alldatasheetpt.com | Polish : Alldatasheet.pl | Vietnamese : Alldatasheet.vn Indian : Alldatasheet.in | Mexican : Alldatasheet.com.mx | British : Alldatasheet.co.uk | New Zealand : Alldatasheet.co.nz |
|
Family Site : ic2ic.com |
icmetro.com |