| công cụ tìm kiếm bảng dữ liệu linh kiện điện tử |
|
MCF5373CAB180 bảng dữ liệu(PDF) 38 Page - Freescale Semiconductor, Inc |
|
|
|||||||||||||||||||||||||||||
MCF5373CAB180 bảng dữ liệu(HTML) 38 Page - Freescale Semiconductor, Inc |
|
38 / 42 page ![]() MCF5373 ColdFire® Microprocessor Data Sheet, Rev. 0.3 Preliminary Preliminary Electrical Characteristics Freescale Semiconductor 38 Figure 27. Test Clock Input Timing Figure 28. Boundary Scan (JTAG) Timing J11 TCLK Low to TDO Data Valid tTDODV 026 ns J12 TCLK Low to TDO High Z tTDODZ 08 ns J13 TRST Assert Time tTRSTAT 100 — ns J14 TRST Setup Time (Negation) to TCLK High tTRSTST 10 — ns NOTES: 1 JTAG_EN is expected to be a static signal. Hence, specific timing is not associated with it. Table 24. JTAG and Boundary Scan Timing (continued) Num Characteristics1 Symbol Min Max Unit TCLK VIL VIH J4 J4 (input) J2 J3 J3 Input Data Valid Output Data Valid Output Data Valid TCLK Data Inputs Data Outputs Data Outputs Data Outputs VIL VIH J7 J8 J7 J6 J5 |
|
Link URL |
| Cho đến nay ALLDATASHEET có giúp ích cho doanh nghiệp của bạn hay không? [ DONATE ] |
Alldatasheet là | Quảng cáo | Liên lạc với chúng tôi | Chính sách bảo mật | Liên kết đến bảng dữ liệu | Trao đổi link | Tìm kiếm theo nhà sản xuất All Rights Reserved©Alldatasheet.com |
| Russian : Alldatasheetru.com | Korean : Alldatasheet.co.kr | Spanish : Alldatasheet.es | French : Alldatasheet.fr | Italian : Alldatasheetit.com Portuguese : Alldatasheetpt.com | Polish : Alldatasheet.pl | Vietnamese : Alldatasheet.vn Indian : Alldatasheet.in | Mexican : Alldatasheet.com.mx | British : Alldatasheet.co.uk | New Zealand : Alldatasheet.co.nz |
|
Family Site : ic2ic.com |
icmetro.com |