| công cụ tìm kiếm bảng dữ liệu linh kiện điện tử |
|
4356-RX-434 bảng dữ liệu(PDF) 8 Page - Silicon Laboratories |
|
|
|||||||||||||||||||||||||||||
4356-RX-434 bảng dữ liệu(HTML) 8 Page - Silicon Laboratories |
|
8 / 26 page ![]() Si4356 8 Rev 1.2 1.1. Definition of Test Conditions Production Test Conditions: TA =+25 °C VDD =+3.3VDC External reference signal (XIN) = 1.0 VPP at 30 MHz, centered around 0.8 VDC Production test schematic (unless noted otherwise) All RF input levels referred to the pins of the Si4356 (not the RF module) Qualification Test Conditions: TA = –40 to +85 °C (typical = 25 °C) VDD = +1.8 to +3.6 VDC (typical = 3.3 VDC) Using reference design or production test schematic All RF input levels are referred to the antenna port of Si4356 reference design or to the pins of the Si4356 when the production test setup is used. |
|
|
Link URL |
| Cho đến nay ALLDATASHEET có giúp ích cho doanh nghiệp của bạn hay không? [ DONATE ] |
Alldatasheet là | Quảng cáo | Liên lạc với chúng tôi | Chính sách bảo mật | Liên kết đến bảng dữ liệu | Trao đổi link | Tìm kiếm theo nhà sản xuất All Rights Reserved©Alldatasheet.com |
| Russian : Alldatasheetru.com | Korean : Alldatasheet.co.kr | Spanish : Alldatasheet.es | French : Alldatasheet.fr | Italian : Alldatasheetit.com Portuguese : Alldatasheetpt.com | Polish : Alldatasheet.pl | Vietnamese : Alldatasheet.vn Indian : Alldatasheet.in | Mexican : Alldatasheet.com.mx | British : Alldatasheet.co.uk | New Zealand : Alldatasheet.co.nz |
|
Family Site : ic2ic.com |
icmetro.com |