| công cụ tìm kiếm bảng dữ liệu linh kiện điện tử |
|
AD5259 bảng dữ liệu(PDF) 13 Page - Analog Devices |
|
|
|||||||||||||||||||||||||||||
AD5259 bảng dữ liệu(HTML) 13 Page - Analog Devices |
|
13 / 24 page ![]() Data Sheet AD5259 Rev. C | Page 13 of 24 TEST CIRCUITS Figure 32 through Figure 37 illustrate the test circuits that define the test conditions used in the product Specifications tables. VMS A W B DUT V+ V+ = VDD 1LSB = V+/2N Figure 32. Test Circuit for Potentiometer Divider Nonlinearity Error (INL, DNL) NO CONNECT IW VMS A W B DUT Figure 33. Test Circuit for Resistor Position Nonlinearity Error (Rheostat Operation; R-INL, R-DNL) VMS2 VMS1 VW A W B DUT IW = VDD/RNOMINAL RW = [VMS1 – VMS2]/IW Figure 34. Test Circuit for Wiper Resistance ∆V MS% DUT ( ) A W B V+ ∆V DD% ∆V MS ∆V DD ∆V DD VA VMS V+ = VDD ± 10% PSRR (dB) = 20 LOG PSS (%/%) = Figure 35. Test Circuit for Power Supply Sensitivity (PSS, PSSR) +5V –5V W A +2.5V B VOUT OFFSET GND DUT AD8610 VIN Figure 36. Test Circuit for Gain vs. Frequency W B DUT ISW ISW RSW GND TO VDD CODE = 0x00 = 0.1V 0.1V Figure 37. Test Circuit for Common-Mode Leakage Current |
|
|
Link URL |
| Cho đến nay ALLDATASHEET có giúp ích cho doanh nghiệp của bạn hay không? [ DONATE ] |
Alldatasheet là | Quảng cáo | Liên lạc với chúng tôi | Chính sách bảo mật | Liên kết đến bảng dữ liệu | Trao đổi link | Tìm kiếm theo nhà sản xuất All Rights Reserved©Alldatasheet.com |
| Russian : Alldatasheetru.com | Korean : Alldatasheet.co.kr | Spanish : Alldatasheet.es | French : Alldatasheet.fr | Italian : Alldatasheetit.com Portuguese : Alldatasheetpt.com | Polish : Alldatasheet.pl | Vietnamese : Alldatasheet.vn Indian : Alldatasheet.in | Mexican : Alldatasheet.com.mx | British : Alldatasheet.co.uk | New Zealand : Alldatasheet.co.nz |
|
Family Site : ic2ic.com |
icmetro.com |