| công cụ tìm kiếm bảng dữ liệu linh kiện điện tử |
|
74HC08DB bảng dữ liệu(PDF) 7 Page - NXP Semiconductors |
|
|
|||||||||||||||||||||||||||||
74HC08DB bảng dữ liệu(HTML) 7 Page - NXP Semiconductors |
|
7 / 16 page ![]() 74HC_HCT08 All information provided in this document is subject to legal disclaimers. © NXP B.V. 2012. All rights reserved. Product data sheet Rev. 4 — 6 September 2012 7 of 16 NXP Semiconductors 74HC08; 74HCT08 Quad 2-input AND gate Test data is given in Table 9. Definitions test circuit: RT = termination resistance should be equal to output impedance Zo of the pulse generator. CL = load capacitance including jig and probe capacitance. Fig 7. Load circuitry for measuring switching times 001aah768 tW tW tr tr tf VM VI negative pulse GND VI positive pulse GND 10 % 90 % 90 % 10 % VM VM VM tf VCC DUT RT VI VO CL G Table 9. Test data Type Input Load Test VI tr, tf CL 74HC08 VCC 6.0 ns 15 pF, 50 pF tPLH, tPHL 74HCT08 3.0 V 6.0 ns 15 pF, 50 pF tPLH, tPHL |
|
|
Link URL |
| Cho đến nay ALLDATASHEET có giúp ích cho doanh nghiệp của bạn hay không? [ DONATE ] |
Alldatasheet là | Quảng cáo | Liên lạc với chúng tôi | Chính sách bảo mật | Liên kết đến bảng dữ liệu | Trao đổi link | Tìm kiếm theo nhà sản xuất All Rights Reserved©Alldatasheet.com |
| Russian : Alldatasheetru.com | Korean : Alldatasheet.co.kr | Spanish : Alldatasheet.es | French : Alldatasheet.fr | Italian : Alldatasheetit.com Portuguese : Alldatasheetpt.com | Polish : Alldatasheet.pl | Vietnamese : Alldatasheet.vn Indian : Alldatasheet.in | Mexican : Alldatasheet.com.mx | British : Alldatasheet.co.uk | New Zealand : Alldatasheet.co.nz |
|
Family Site : ic2ic.com |
icmetro.com |