 |
công cụ tìm kiếm bảng dữ liệu linh kiện điện tử |
|
|
công cụ tìm kiếm bảng dữ liệu linh kiện điện tử |
|
ADP1046ACPZ-R7 bảng dữ liệu(PDF) 9 Page - Analog Devices |
|
|
|||||||||||||||||||||||||||||
ADP1046ACPZ-R7 bảng dữ liệu(HTML) 9 Page - Analog Devices |
|
|
9 / 96 page  Data Sheet ADP1046 Rev. 0 | Page 9 of 96 Parameter Symbol Test Conditions/Comments Min Typ Max Unit EEPROM RELIABILITY Endurance1 TJ = 85°C 10,000 Cycles TJ = 125°C 1000 Cycles Data Retention2 TJ = 85°C 20 Years TJ = 125°C 10 Years 1 Endurance is qualified as per JEDEC Standard 22, Method A117, and is measured at −40°C, +25°C, +85°C, and +125°C. Endurance conditions are subject to change pending EEPROM qualification. 2 Retention lifetime equivalent at junction temperature (TJ) = 85°C as per JEDEC Standard 22, Method A117. The derated retention lifetime equivalent at junction temperature TJ = 125°C is 2.87 years and is subject to change pending EEPROM qualification. Timing Diagram SCL SDA PS tBUF tHD;STA tHD;DAT tHIGH tSU;DAT tHD;STA tSU;STA tSU;STO tLOW tR tF SP Figure 3. Serial Bus Timing Diagram |
|
Link URL |
| Cho đến nay ALLDATASHEET có giúp ích cho doanh nghiệp của bạn hay không? [ DONATE ] |
Alldatasheet là | Quảng cáo | Liên lạc với chúng tôi | Chính sách bảo mật | Liên kết đến bảng dữ liệu | Trao đổi link | Tìm kiếm theo nhà sản xuất All Rights Reserved©Alldatasheet.com |
| Russian : Alldatasheetru.com | Korean : Alldatasheet.co.kr | Spanish : Alldatasheet.es | French : Alldatasheet.fr | Italian : Alldatasheetit.com Portuguese : Alldatasheetpt.com | Polish : Alldatasheet.pl | Vietnamese : Alldatasheet.vn Indian : Alldatasheet.in | Mexican : Alldatasheet.com.mx | British : Alldatasheet.co.uk | New Zealand : Alldatasheet.co.nz |
|
Family Site : ic2ic.com |
icmetro.com |
Vietnamese ▼
English
Chinese
German
Japanese
Russian
Korean
Spanish
French
Italian
Portuguese
Polish
Vietnamese
Indian
Mexican
British
New Zealand
