| công cụ tìm kiếm bảng dữ liệu linh kiện điện tử |
|
ISB35166 bảng dữ liệu(PDF) 9 Page - STMicroelectronics |
|
|
|||||||||||||||||||||||||||||
ISB35166 bảng dữ liệu(HTML) 9 Page - STMicroelectronics |
|
9 / 15 page ![]() EVALUATION DEVICE An evaluation device is used to demonstrate the performance of the ISB35000 series as well as verify the effectiveness of the design system. The device has path delays, latches, a host of macro- cells and embedded functions which were used to verify the simulated characteristics that are supplied in the data book. Characterization of the path delays including interconnect shows typical delays of 210 ps for a 2 input NAND with receivers/drivers oper- ating at frequencies of 200 MHz. The evaluation device is available in a 208 pin plastic quad flat pack. Figure 5. Evaluation Device ISB35000 SERIES 9/15 |
|
|
Link URL |
| Cho đến nay ALLDATASHEET có giúp ích cho doanh nghiệp của bạn hay không? [ DONATE ] |
Alldatasheet là | Quảng cáo | Liên lạc với chúng tôi | Chính sách bảo mật | Liên kết đến bảng dữ liệu | Trao đổi link | Tìm kiếm theo nhà sản xuất All Rights Reserved©Alldatasheet.com |
| Russian : Alldatasheetru.com | Korean : Alldatasheet.co.kr | Spanish : Alldatasheet.es | French : Alldatasheet.fr | Italian : Alldatasheetit.com Portuguese : Alldatasheetpt.com | Polish : Alldatasheet.pl | Vietnamese : Alldatasheet.vn Indian : Alldatasheet.in | Mexican : Alldatasheet.com.mx | British : Alldatasheet.co.uk | New Zealand : Alldatasheet.co.nz |
|
Family Site : ic2ic.com |
icmetro.com |