| công cụ tìm kiếm bảng dữ liệu linh kiện điện tử |
|
AT21CS01 bảng dữ liệu(PDF) 10 Page - Microchip Technology |
|
|
|||||||||||||||||||||||||||||
AT21CS01 bảng dữ liệu(HTML) 10 Page - Microchip Technology |
|
10 / 47 page ![]() 1.5.3 EEPROM Cell Performance Characteristics Operation Min. Max. Units Test Condition Write Cycle Time (tWR) — 5 ms VPUP (min.) < VPUP < VPUP (max.), TA = 25°C, Byte or Page Write mode Write Endurance(1) 1,000,000 — Write Cycles VPUP (min.) < VPUP < VPUP (max.), TA = 25°C, Byte or Page Write mode Data Retention(2) 100 — Years VPUP (min.) < VPUP < VPUP (max.), TA = 55°C Note: 1. Write endurance performance is determined through characterization and the qualification process. 2. The data retention capability is determined through qualification and checked on each device in production. AT21CS01/AT21CS11 © 2017 Microchip Technology Inc. Datasheet DS20005857A-page 10 |
|
Link URL |
| Cho đến nay ALLDATASHEET có giúp ích cho doanh nghiệp của bạn hay không? [ DONATE ] |
Alldatasheet là | Quảng cáo | Liên lạc với chúng tôi | Chính sách bảo mật | Liên kết đến bảng dữ liệu | Trao đổi link | Tìm kiếm theo nhà sản xuất All Rights Reserved©Alldatasheet.com |
| Russian : Alldatasheetru.com | Korean : Alldatasheet.co.kr | Spanish : Alldatasheet.es | French : Alldatasheet.fr | Italian : Alldatasheetit.com Portuguese : Alldatasheetpt.com | Polish : Alldatasheet.pl | Vietnamese : Alldatasheet.vn Indian : Alldatasheet.in | Mexican : Alldatasheet.com.mx | British : Alldatasheet.co.uk | New Zealand : Alldatasheet.co.nz |
|
Family Site : ic2ic.com |
icmetro.com |