| công cụ tìm kiếm bảng dữ liệu linh kiện điện tử |
|
NX3L1G53 bảng dữ liệu(PDF) 13 Page - NXP Semiconductors |
|
|
|||||||||||||||||||||||||||||
NX3L1G53 bảng dữ liệu(HTML) 13 Page - NXP Semiconductors |
|
13 / 24 page ![]() NX3L1G53 All information provided in this document is subject to legal disclaimers. © NXP B.V. 2013. All rights reserved. Product data sheet Rev. 7 — 8 February 2013 13 of 24 NXP Semiconductors NX3L1G53 Low-ohmic single-pole double-throw analog switch a. Test circuit b. Input and output measurement points Fig 17. Test circuit for measuring break-before-make timing 001aah458 RL S GND E Z Y0 VIL Y1 VCC VI CL G V VO VEXT = 1.5 V 001aag572 VI tb-m VO 0.9VO 0.9VO 0.5VI Test data is given in Table 11. Definitions test circuit: RL = Load resistance. CL = Load capacitance including jig and probe capacitance. VEXT = External voltage for measuring switching times. VI may be connected to S or E. Fig 18. Test circuit for measuring switching times 001aah459 RL S GND E Z Y0 VIL Y1 VCC VI CL G V VO VEXT = 1.5 V switch 1 2 |
|
|
Link URL |
| Cho đến nay ALLDATASHEET có giúp ích cho doanh nghiệp của bạn hay không? [ DONATE ] |
Alldatasheet là | Quảng cáo | Liên lạc với chúng tôi | Chính sách bảo mật | Liên kết đến bảng dữ liệu | Trao đổi link | Tìm kiếm theo nhà sản xuất All Rights Reserved©Alldatasheet.com |
| Russian : Alldatasheetru.com | Korean : Alldatasheet.co.kr | Spanish : Alldatasheet.es | French : Alldatasheet.fr | Italian : Alldatasheetit.com Portuguese : Alldatasheetpt.com | Polish : Alldatasheet.pl | Vietnamese : Alldatasheet.vn Indian : Alldatasheet.in | Mexican : Alldatasheet.com.mx | British : Alldatasheet.co.uk | New Zealand : Alldatasheet.co.nz |
|
Family Site : ic2ic.com |
icmetro.com |