 |
công cụ tìm kiếm bảng dữ liệu linh kiện điện tử |
|
|
công cụ tìm kiếm bảng dữ liệu linh kiện điện tử |
|
EMIF06-SD03F3 bảng dữ liệu(PDF) 12 Page - STMicroelectronics |
|
|
|||||||||||||||||||||||||||||
EMIF06-SD03F3 bảng dữ liệu(HTML) 12 Page - STMicroelectronics |
|
|
12 / 23 page  Data transmission EMIF06-SD03F3 12/23 Doc ID 15194 Rev 2 4.2 Test circuit from SD to host Test circuit from SD to host is shown in Figure 9. Timings are measured for the whole line cell (shifter + EMI + ESD) on an external load Chost = 5 pF (board capacitance + host capacitance). Figure 9. Test circuit from SD to host 4.3 Measurement of tskew (host to SD) from rising edge CLK.h Figure 10. Example of measurement of tskew (host to SD) from rising edge of CLK.h HOST SD Chost= 5 pF tskew= Tp(CLK.h CLK.h Tp(CLK.h CLK CLK CLK - - - B) B B) - Tp(Datx.h Dat.h Tp(Datx.h Datx Dat Datx - x- - B) B B) MiniSD card CPU EMIF06-SD02F3 CLK-B 15pF CLK.h = « 1 » 15pF MiniSD card CPU EMIF06-SD03F3 CLK-B Dat-B 15pF 15pF DAT.dir = « 1 » CLK.f DAT.h 15pF 15pF 0V 0V 0V 0V VccB VccB VccA VccA 50% 50% 50% 50% |
|
|
Link URL |
| Cho đến nay ALLDATASHEET có giúp ích cho doanh nghiệp của bạn hay không? [ DONATE ] |
Alldatasheet là | Quảng cáo | Liên lạc với chúng tôi | Chính sách bảo mật | Liên kết đến bảng dữ liệu | Trao đổi link | Tìm kiếm theo nhà sản xuất All Rights Reserved©Alldatasheet.com |
| Russian : Alldatasheetru.com | Korean : Alldatasheet.co.kr | Spanish : Alldatasheet.es | French : Alldatasheet.fr | Italian : Alldatasheetit.com Portuguese : Alldatasheetpt.com | Polish : Alldatasheet.pl | Vietnamese : Alldatasheet.vn Indian : Alldatasheet.in | Mexican : Alldatasheet.com.mx | British : Alldatasheet.co.uk | New Zealand : Alldatasheet.co.nz |
|
Family Site : ic2ic.com |
icmetro.com |
Vietnamese ▼
English
Chinese
German
Japanese
Russian
Korean
Spanish
French
Italian
Portuguese
Polish
Vietnamese
Indian
Mexican
British
New Zealand
