| công cụ tìm kiếm bảng dữ liệu linh kiện điện tử |
|
33879 bảng dữ liệu(PDF) 12 Page - Freescale Semiconductor, Inc |
|
|
|||||||||||||||||||||||||||||
33879 bảng dữ liệu(HTML) 12 Page - Freescale Semiconductor, Inc |
|
12 / 25 page ![]() Analog Integrated Circuit Device Data 12 Freescale Semiconductor 33879 ELECTRICAL CHARACTERISTICS TIMING DIAGRAMS TIMING DIAGRAMS Figure 4. SPI Timing Diagram Figure 5. Valid Data Delay Time and Valid Time Test Circuit Figure 6. Valid Data Delay Time and Valid Time Waveforms Figure 7. Enable and Disable Time Waveforms tDO(DIS) 0.7 VDD 0.2 VDD 0.2 VDD 0.7 VDD 0.2 VDD tLEAD tDO(EN) tDI(SU) tDI(HOLD) tVALID tLAG CS SCLK DI DO MSB in MSB out LSB out 0.7 VDD 0.2 VDD DO CL = 200 pF VDD = 5.0 V SCLK 33879 Under Test NOTE: CL represents the total capacitance of the test fixture and probe. (Low-to-High) tF(DI tR(DI) 0.2 VDD 0.7 VDD 0.2 0.7 VDD tVALID tR(DO VOL VOH VOL VOH 0.2 VDD 0.7 VDD 0 V 3.3/5.0 V < 50 ns 50% < 50 ns DO SCLK (High-to-Low) DO 90% tF(CS) tR(CS) VOH VOL 0 V 3.3/5.0 V DO tDO(DIS) tDO(EN) tDO(DIS) tDO(EN) (Tri-State to Low) 0.7 VDD 0.2 VDD <50 ns <50 ns CS 90% DO (Tri-State to High) 10% 10% 90% 10% VTri-State VTri-State |
|
|
Link URL |
| Cho đến nay ALLDATASHEET có giúp ích cho doanh nghiệp của bạn hay không? [ DONATE ] |
Alldatasheet là | Quảng cáo | Liên lạc với chúng tôi | Chính sách bảo mật | Liên kết đến bảng dữ liệu | Trao đổi link | Tìm kiếm theo nhà sản xuất All Rights Reserved©Alldatasheet.com |
| Russian : Alldatasheetru.com | Korean : Alldatasheet.co.kr | Spanish : Alldatasheet.es | French : Alldatasheet.fr | Italian : Alldatasheetit.com Portuguese : Alldatasheetpt.com | Polish : Alldatasheet.pl | Vietnamese : Alldatasheet.vn Indian : Alldatasheet.in | Mexican : Alldatasheet.com.mx | British : Alldatasheet.co.uk | New Zealand : Alldatasheet.co.nz |
|
Family Site : ic2ic.com |
icmetro.com |