| công cụ tìm kiếm bảng dữ liệu linh kiện điện tử |
|
ZL40268 bảng dữ liệu(PDF) 40 Page - Microchip Technology |
|
|
|||||||||||||||||||||||||||||
ZL40268 bảng dữ liệu(HTML) 40 Page - Microchip Technology |
|
40 / 56 page ![]() ZL40268 DS20006412C-page 40 2020-2021 Microchip Technology Inc. FIGURE 4-4: Differential Measurement Points for Rise and Fall Time. FIGURE 4-5: Differential Measurement Points for Ringback. FIGURE 4-6: PCIe Test Circuit. slew_rise = 0.3V/trise_edge_rate [V/ns] slew_fall = 0.3V/tfall_edge_rate [V/ns] OUTx_p -OUTx_n OUTx_p - OUTx_n DUT 15 dB loss at 4 GHz 2 pF 5% 2 pF 5% CK CK# Di eren al PCB trace ZDIFF = 100 ±10% Refclk Margins |
|
Link URL |
| Cho đến nay ALLDATASHEET có giúp ích cho doanh nghiệp của bạn hay không? [ DONATE ] |
Alldatasheet là | Quảng cáo | Liên lạc với chúng tôi | Chính sách bảo mật | Liên kết đến bảng dữ liệu | Trao đổi link | Tìm kiếm theo nhà sản xuất All Rights Reserved©Alldatasheet.com |
| Russian : Alldatasheetru.com | Korean : Alldatasheet.co.kr | Spanish : Alldatasheet.es | French : Alldatasheet.fr | Italian : Alldatasheetit.com Portuguese : Alldatasheetpt.com | Polish : Alldatasheet.pl | Vietnamese : Alldatasheet.vn Indian : Alldatasheet.in | Mexican : Alldatasheet.com.mx | British : Alldatasheet.co.uk | New Zealand : Alldatasheet.co.nz |
|
Family Site : ic2ic.com |
icmetro.com |