| công cụ tìm kiếm bảng dữ liệu linh kiện điện tử |
|
SSF68083X bảng dữ liệu(PDF) 3 Page - Silikron Semiconductor Co.,LTD. |
|
|
|||||||||||||||||||||||||||||
SSF68083X bảng dữ liệu(HTML) 3 Page - Silikron Semiconductor Co.,LTD. |
|
3 / 8 page ![]() SSF68083X &SSF6808F3X ©Silikron Microelectronics (Suzhou) Co.,Ltd www.silikron.com Version : 1.0 page 3 of 8 Test Circuits and Waveforms EAS Test Circuit: Gate Charge Test Circuit: Switching Time Test Circuit: Switching Waveforms: Notes : 1 Calculated continuous current based on maximum allowable junction temperature. ② Repetitive rating; pulse width limited by max. junction temperature. ③ The power dissipation PD is based on max. junction temperature, using junction-to-case thermal resistance. |
|
|
Link URL |
| Cho đến nay ALLDATASHEET có giúp ích cho doanh nghiệp của bạn hay không? [ DONATE ] |
Alldatasheet là | Quảng cáo | Liên lạc với chúng tôi | Chính sách bảo mật | Liên kết đến bảng dữ liệu | Trao đổi link | Tìm kiếm theo nhà sản xuất All Rights Reserved©Alldatasheet.com |
| Russian : Alldatasheetru.com | Korean : Alldatasheet.co.kr | Spanish : Alldatasheet.es | French : Alldatasheet.fr | Italian : Alldatasheetit.com Portuguese : Alldatasheetpt.com | Polish : Alldatasheet.pl | Vietnamese : Alldatasheet.vn Indian : Alldatasheet.in | Mexican : Alldatasheet.com.mx | British : Alldatasheet.co.uk | New Zealand : Alldatasheet.co.nz |
|
Family Site : ic2ic.com |
icmetro.com |