| công cụ tìm kiếm bảng dữ liệu linh kiện điện tử |
|
115H bảng dữ liệu(PDF) 2 Page - ATTEND Technology Inc. |
|
|
|||||||||||||||||||||||||||||
115H bảng dữ liệu(HTML) 2 Page - ATTEND Technology Inc. |
|
2 / 3 page ![]() SERIES: 115H-BA00 Series FILE: 115H-BA00_spec SPECIFICATION AND PERFORMANCE DATE: 2013/08/05 Page 2 of 3 ELECTRICAL Item Requirement Test Condition Contact Resistance 30 m Ohm Max(Initial) 60 m Ohm Max (Final) Subject mated contacts assembled in housing to 20mV Max open circuit at 100mA Max. EIA-364-6B. Insulation Resistance 500 M Ohm Min. Impressed voltage 500 VDC. Test between adjacent circuits of unmated connector. EIA-364-21C. Dielectric withstanding Voltage No creeping discharge or flashover shall occur. Current leakage: 1.0 mA Max 500VAC for 1minute Test between adjacent circuits of unmated connector. EIA-364-20B MECHANICAL Item Requirement Test Condition Durability 5000Cycle Operation Speed:100 cycle/min. Durability Cycles:5,000 Cycles EIA-364-9C Contact Retention Force 200 gf/ Per Pin Min. Measure the contact retention force with Tensile strength tester. |
|
|
Link URL |
| Cho đến nay ALLDATASHEET có giúp ích cho doanh nghiệp của bạn hay không? [ DONATE ] |
Alldatasheet là | Quảng cáo | Liên lạc với chúng tôi | Chính sách bảo mật | Liên kết đến bảng dữ liệu | Trao đổi link | Tìm kiếm theo nhà sản xuất All Rights Reserved©Alldatasheet.com |
| Russian : Alldatasheetru.com | Korean : Alldatasheet.co.kr | Spanish : Alldatasheet.es | French : Alldatasheet.fr | Italian : Alldatasheetit.com Portuguese : Alldatasheetpt.com | Polish : Alldatasheet.pl | Vietnamese : Alldatasheet.vn Indian : Alldatasheet.in | Mexican : Alldatasheet.com.mx | British : Alldatasheet.co.uk | New Zealand : Alldatasheet.co.nz |
|
Family Site : ic2ic.com |
icmetro.com |