| công cụ tìm kiếm bảng dữ liệu linh kiện điện tử |
|
AT28C010 bảng dữ liệu(PDF) 11 Page - Microchip Technology |
|
|
|||||||||||||||||||||||||||||
AT28C010 bảng dữ liệu(HTML) 11 Page - Microchip Technology |
|
11 / 31 page ![]() Note: 1. CE may be delayed up to tACC‑tCE after the address transition without impact on tACC. 2. OE may be delayed up to tCE‑tOE after the falling edge of CE without impact on tCE or by tACC‑tOE after an address change without impact in tACC. 3. tDF is specified from OE or CE, whichever occurs first (CL = 5 pF). 4. This parameter is characterized and is not 100% tested. 5. If CE is de-asserted, it must remain de-asserted for at least 50 ns during read operations, otherwise incorrect data may be read. 5.3 AC Read Waveforms High-Z High-Z t CE t OE t ACC t ACC t DF t OH t CE t OE t ACC t DF t OH 5.4 Input Test Waveforms and Measurement Level AC DRIVING LEVELS AC MEASUREMENT LEVELS 3.0V 0.0V 1.5V 5.5 Output Test Load 5.0V 1.8K 1.3K OUTPUT PIN 100 pF AT28C010 Device Operation © 2020 Microchip Technology Inc. DS20006311A-page 11 |
|
Link URL |
| Cho đến nay ALLDATASHEET có giúp ích cho doanh nghiệp của bạn hay không? [ DONATE ] |
Alldatasheet là | Quảng cáo | Liên lạc với chúng tôi | Chính sách bảo mật | Liên kết đến bảng dữ liệu | Trao đổi link | Tìm kiếm theo nhà sản xuất All Rights Reserved©Alldatasheet.com |
| Russian : Alldatasheetru.com | Korean : Alldatasheet.co.kr | Spanish : Alldatasheet.es | French : Alldatasheet.fr | Italian : Alldatasheetit.com Portuguese : Alldatasheetpt.com | Polish : Alldatasheet.pl | Vietnamese : Alldatasheet.vn Indian : Alldatasheet.in | Mexican : Alldatasheet.com.mx | British : Alldatasheet.co.uk | New Zealand : Alldatasheet.co.nz |
|
Family Site : ic2ic.com |
icmetro.com |